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超声波测厚仪的基本原理和产品特点概述

发布时间:2021-07-19      点击次数:648
    超声波测厚仪是根据超声波脉冲反冲原理来进行测量厚度的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
 
  超声波测厚仪的基本原理:
  采用超声波测量原理,适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
 
  超声波测厚仪的产品特点:
  高精度测厚:具有探头零点校准、两点校准功能,可对系统误差进行自动修正;根据已知厚度可以反测声速,以提高测量精度。
 
  扫描模式:实时显示测量材料大小值。
 
  通信,存储:USB接口可与上位机通信,实现测厚数据在线统计,TF卡存储保存。
 
  穿透涂层测厚:强大的穿透涂层测厚功能使您免除辛苦打磨的繁琐准备工作,只需略微处理涂层表面就可以实现轻松测厚。
 
  测值准确:高精度的测量电路保证在整个测量范围内都为0.1/0.01mm的分辨率。
 
  显示界面:真彩液晶屏作为显示界面,背光亮度可调,自动熄屏功能。
 
  中英文界面自由切换,客户使用更加方便快捷。
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